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型號:FETS-2000b

FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測...

型號:FETS-2000

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集,可進行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測...

型號:CCDM-1000

CCDM-1000電容充放電測試儀用于研究電容的高電壓充放電性能,集控制器、高壓電源、信號采集器于一體,具有過阻尼、欠阻尼、疲勞等測試功能,配有高壓擊穿保護模塊。系統(tǒng)自動采集充放電過程樣品兩端電壓變化...

型號:FETS-2000

FETS-2000變溫鐵電測試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集,可進行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、...

型號:ECTS-2000

ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試采用直接法進行測量,直接測量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點,具有高壓擊穿保護功能。配置專用的電...

型號:PCTS-3000

PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

型號:DPTS-3000

DPTS-3000高低溫介電溫譜測試儀(單通道、多通道)兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表,同時具有單通道和4通道測量模式,單通道模式適用于追求超高精度測量結(jié)果的場合,4通...

型號:DPTS-RT-600

DPTS-RT-600高溫介電溫譜測試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、介電頻譜掃描的測試。系統(tǒng)軟件將高溫測試箱、高溫測試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無縫連接,測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(...

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武漢研禾科技有限公司成立于2017年,是一家從事功能材料電性測試設(shè)備研發(fā)的高科技公司,經(jīng)過多年產(chǎn)品研發(fā)和技術(shù)積累,已經(jīng)擁有涵蓋鐵電、電卡效應(yīng)、電容充放電、熱釋電、壓電、介電等領(lǐng)域的測試設(shè)備,可以滿足功能材料電學(xué)性能測試的全套需求。核心技術(shù)團隊由多位資深高級工程師、功能材料學(xué)博士組成,在材料表征、設(shè)備研制、軟件開發(fā)等方面具有深厚的理論功底和豐富的實踐經(jīng)驗。我司堅持自主研發(fā),緊跟功能材料測試需求,研發(fā)出的鐵電測試系統(tǒng)、電卡效應(yīng)測試儀、電容充放電測試儀、熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試系統(tǒng)等設(shè)備...
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技術(shù)文章

  • 發(fā)布時間

    20256-24

    詳解熱釋電測試過程及注意事項

    熱釋電測試主要用于測量材料的熱釋電系數(shù),需要嚴(yán)格遵循熱釋電測試的測定步驟,并留意各項使用注意事項,才能獲取準(zhǔn)確可靠的測試數(shù)據(jù),為相關(guān)研究與應(yīng)用提供有力支撐。1.樣品準(zhǔn)備:將熱釋電材料樣品準(zhǔn)備好,并確保其表面干凈平整,以確保測試的準(zhǔn)確性。2.連接電路:將輸入電壓源與熱電偶(或紅外線傳感器)以及示波器(或多用電表)相連,組成完整的測量電路。3.控制溫度:使用溫度控制裝置(例如熱水浴或熱風(fēng)機),將溫度逐步升高或降低,在每個溫度點上記錄下材料的電壓輸出值。4.數(shù)據(jù)處理:根據(jù)記錄的電壓...

  • 發(fā)布時間

    20256-18

    熱釋電測試方法有哪些?

    熱釋電測試是研究和評估熱釋電材料性能的關(guān)鍵手段,熱釋電效應(yīng)是指某些晶體或極性材料在溫度變化時,由于自發(fā)極化強度的變化而在其表面產(chǎn)生電荷的現(xiàn)象,通過測量材料在不同溫度條件下產(chǎn)生的電荷或電壓變化,來評估材料的熱釋電性能。熱釋電測試方法:-靜態(tài)法:將樣品加熱到一定溫度后,使其自然冷卻,同時測量樣品兩端的電壓或電荷變化。這種方法操作簡單,但測量時間較長,且容易受到外界溫度波動的影響。-動態(tài)法:對樣品進行周期性的溫度調(diào)制,如使用加熱爐體按照一定的升溫和降溫速率對樣品進行加熱和冷卻,同時...

  • 發(fā)布時間

    20255-29

    熱釋電測試儀是一種用于測量材料熱釋電性能的儀器

    熱釋電測試儀是一種用于測量材料熱釋電性能的精密儀器?。熱釋電效應(yīng)是指某些材料在溫度變化時,其表面電荷分布發(fā)生變化,從而產(chǎn)生電勢差的現(xiàn)象。熱釋電系數(shù)是衡量材料熱釋電性能的重要參數(shù),對于研究和應(yīng)用熱釋電材料具有重要意義?。熱釋電測試儀基于熱釋電效應(yīng)工作。測試儀通過準(zhǔn)確控制樣品的溫度和電場條件,利用高靈敏度的傳感器實時采集這些電信號,并經(jīng)過信號放大、濾波和數(shù)字化處理后,得到樣品的熱釋電系數(shù)數(shù)據(jù)。熱釋電測試儀通常由溫度控制系統(tǒng)、電場施加系統(tǒng)、信號采集與處理系統(tǒng)等部分組成。通過準(zhǔn)確控制...

  • 發(fā)布時間

    20255-27

    為什么要進行PUND測試?

    PUND測試主要通過向鐵電樣品施加特定波形和幅值的電場,同時準(zhǔn)確測量樣品在不同電場作用下的響應(yīng),從而獲取一系列反映鐵電材料性能的關(guān)鍵參數(shù)。在測試過程中,儀器需要具備較高的電壓控制精度和電流測量靈敏度,以確保能夠捕捉到鐵電材料在極化翻轉(zhuǎn)過程中微弱且瞬態(tài)的電學(xué)信號變化。例如,在測量鐵電材料的電滯回線時,儀器需要逐步改變施加在樣品兩端的電壓,記錄對應(yīng)的極化強度值,通過繪制極化強度隨電壓變化的曲線,直觀地展示鐵電材料的自發(fā)極化、剩余極化以及矯頑場等重要特性。這些特性不僅是鐵電材料區(qū)別...

  • 發(fā)布時間

    20255-21

    PUND測試儀是用于研究鐵電材料電學(xué)性能的關(guān)鍵設(shè)備

    PUND測試儀是用于研究鐵電材料電學(xué)性能的關(guān)鍵設(shè)備,在材料科學(xué)、凝聚態(tài)物理及電子器件研發(fā)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可少的作用。鐵電材料作為一種特殊的電介質(zhì)材料,具有自發(fā)極化特性,且其極化方向能夠在外電場作用下發(fā)生可逆翻轉(zhuǎn),這種特殊的電學(xué)行為使得鐵電材料在存儲器、傳感器、電容器等眾多電子元器件中展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。PUND測試儀的校準(zhǔn):1.選擇校準(zhǔn)方法:-根據(jù)設(shè)備的具體情況和校準(zhǔn)需求,選擇合適的校準(zhǔn)方法。常見的校準(zhǔn)方法包括頻響校準(zhǔn)、矢量校準(zhǔn)(單端口、雙端口、多端口以及TRL校準(zhǔn)等)以及電...

  • 發(fā)布時間

    20254-27

    薄膜鐵電性能綜合測試儀主要用于測量和評估薄膜材料的鐵電性能

    薄膜鐵電性能綜合測試儀測試儀能夠進行多種電學(xué)性能測試,包括電滯回線、漏電流、疲勞特性等,從而幫助研究人員深入了解材料的電學(xué)特性。薄膜鐵電性能綜合測試儀是用于薄膜材料鐵電性能測試的關(guān)鍵設(shè)備,其功能涵蓋電滯回線、I-V特性、疲勞特性、漏電流等參數(shù)的準(zhǔn)確測量,在鐵電材料研發(fā)、器件制造及性能評估中發(fā)揮重要作用。鐵電測試儀的主要原理是通過施加外場(磁場或電場)來檢測被測試材料的鐵電特性。在測試中,通常會需要在樣品表面施加一個高壓電場,以觀測材料在這個電場下的瞬時電極化行為。鐵電測試儀一...

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